場發射掃描式電子顯微鏡 相關
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掃描電子顯微鏡 （英語： Scanning Electron Microscope ，縮寫為SEM），簡稱 掃描電鏡 ，是一種通過用聚焦 電子束 掃描樣品的表面來產生樣品表面圖像的 電子顯微鏡 。 顯微鏡電子束通常以 光柵掃描 （英語：Raster scan） 圖案掃描。 電子 與樣品中的 原子 交互作用，產生包含關於樣品的表面 測繪學形貌 和組成的資訊的各種信號，信號與光束的位置組合而產生圖像。 掃描電子顯微鏡可以實現的解析度優於1 奈米 。 樣品可以在高真空，低真空，濕條件（用環境掃描電子顯微鏡）以及寬範圍的低溫或高溫下觀察到。 最常見的掃描電子顯微鏡模式是檢測由電子束激發的原子發射的 二次電子 （secondary electron）。
場發射掃描電子顯微鏡 是一種比較簡單的電子顯微鏡，它觀察樣本上因強電場導致的 場發射 所散發出來的電子。 假如觀察的是透過樣本的掃描電子的話，那麼這種顯微鏡被稱為 掃描透射電子顯微鏡 （Scanning Transmission Electron Microscopy，STEM）。 冷凍電鏡，就是用於掃描電鏡的超低溫冷凍制樣及傳輸技術（Cryo-SEM）可實現直接觀察液體、半液體及對電子束敏感的樣品，如生物、高分子材料等。 樣品經過超低溫冷凍、斷裂、鍍膜制樣（噴金/噴碳）等處理後，通過冷凍傳輸系統放入電鏡內的冷台（溫度可至-185℃）即可進行觀察。 其中，快速冷凍技術可使水在低溫狀態下呈玻璃態，減少冰晶的產生，從而不影響樣品本身結構，冷凍傳輸系統保證在低溫狀態下對樣品進行電鏡觀察。
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1980年代人們如何使用掃描電子顯微鏡觀察濕樣本?
10%. 電子場致發射 ，也稱為 場致發射 （ Field Emission ）和 電子場發射 、 場發射 ，是由 靜電場 引起的 電子 發射。. 最常見的情況是從 固體 表面到 真空 的場致發射。. 然而，場發射可以從固體或 液體 表面、真空、 流體 （例如 空氣 ）或任何 絕緣 或弱導電 ...
穿透式電子顯微鏡可放大80萬倍，可以看出分子的形象；掃描式電子顯微鏡可用以觀察立體的表面，放大倍率約20萬倍。 電子顯微鏡分為 透射電子顯微鏡 、 能量過濾透過式電子顯微鏡 、 掃描電子顯微鏡 、 場發射掃描電子顯微鏡 、 掃描透射電子顯微鏡 等類型。
穿透式電子顯微鏡 （英語： Transmission electron microscope ，縮寫： TEM 、 CTEM ），簡稱 透射電鏡 ，是把經加速和聚集的 電子 束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。 散射角 的大小與樣品的密度、厚度相關，因此可以形成明暗不同的影像，影像將在放大、聚焦後在成像器件（如 螢光屏 、 膠片 、以及 感光耦合組件 ）上顯示出來。 由於電子的 德布羅意波長 非常短，透射電子顯微鏡的解析度比光學顯微鏡高的很多，可以達到0.1～0.2 nm，放大倍數為幾萬～百萬倍。 因此，使用穿透式電子顯微鏡可以用於觀察樣品的精細結構，甚至可以用於觀察僅僅一列原子的結構，比光學顯微鏡所能夠觀察到的最小的結構小數千倍。
最常见的扫描电子显微镜模式是检测由电子束激发的原子发射的 二次电子 （secondary electron）。 可以检测的二次电子的数量，取决于样品测绘学形貌，以及其他因素。 通过扫描样品并使用特殊检测器收集被发射的二次电子，创建了显示表面的形貌的图像。 它还可能产生样品表面的高分辨率图像，且图像呈三维，鉴定样品的表面结构。 结构. 扫描电子显微镜由三大部分组成： 真空 系统，电子束系统以及成像系统。 真空系统主要包括真空泵和真空柱两部分。 真空柱是一个密封的柱形容器。
掃描探針顯微鏡 （ Scanning probe microscopy ， SPM ）是所有機械式地用物理 探針 在 樣本 上掃描移動以探測樣本 影像 的 顯微鏡 的統稱。 其影像 解析度 主要取決於探針的大小〔通常在 奈米 的範圍〕。 掃描隧道顯微鏡 是第一個被發明的掃描探針顯微鏡〔1981年〕，這是一種用於在原子水平表面成像的儀器。 第一次成功的掃描隧道顯微鏡實驗由Binnig和Rohrer完成。 他們成功的關鍵是使用反饋迴路來調節樣品和探針之間的間隙距離 [1] 。 許多掃描探針顯微鏡可以同時用幾種相互作用來成像。 使用這些相互作用來獲得圖像的方式通常被稱為模式。 種類 [ 編輯] AFM, 原子力顯微鏡. 接觸式. 非接觸式. 動態接觸式. EFM, 靜電力顯微鏡.
