sem電子顯微鏡 相關
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掃描電子顯微鏡 （英語： Scanning Electron Microscope ，縮寫為SEM），簡稱 掃描電鏡 ，是一種通過用聚焦 電子束 掃描樣品的表面來產生樣品表面圖像的 電子顯微鏡 。 顯微鏡電子束通常以 光柵掃描 （英語：Raster scan） 圖案掃描。 電子 與樣品中的 原子 交互作用，產生包含關於樣品的表面 測繪學形貌 和組成的資訊的各種信號，信號與光束的位置組合而產生圖像。 掃描電子顯微鏡可以實現的解析度優於1 奈米 。 樣品可以在高真空，低真空，濕條件（用環境掃描電子顯微鏡）以及寬範圍的低溫或高溫下觀察到。 最常見的掃描電子顯微鏡模式是檢測由電子束激發的原子發射的 二次電子 （secondary electron）。
扫描电子显微镜 （英語： Scanning Electron Microscope ，缩写为SEM），简称 扫描电镜 ，是一种通过用聚焦 电子束 扫描样品的表面来产生样品表面图像的 电子显微镜 。 显微镜电子束通常以 光栅扫描 （英语：Raster scan） 图案扫描。 电子 与样品中的 原子 相互作用，产生包含关于样品的表面 测绘学形貌 和组成的信息的各种信号，信号与光束的位置组合而产生图像。 扫描电子显微镜可以实现的分辨率优于1 纳米 。 样品可以在高真空，低真空，湿条件（用环境扫描电子显微镜）以及宽范围的低温或高温下观察到。 最常见的扫描电子显微镜模式是检测由电子束激发的原子发射的 二次电子 （secondary electron）。
2024年3月6日 · 扫描电子显微镜 （英语： Scanning Electron Microscope ，缩写为SEM），简称 扫描电镜 ，是一种通过用聚焦 电子束 扫描样品的表面来产生样品表面图像的 电子显微镜 。 显微镜电子束通常以 光栅扫描 （英语：Raster scan） 图案扫描。 电子 与样品中的 原子 相互作用，产生包含关于样品的表面 测绘学形貌 和组成的信息的各种信号，信号与光束的位置组合而产生图像。 扫描电子显微镜可以实现的分辨率优于1 纳米 。 样品可以在高真空，低真空，湿条件（用环境扫描电子显微镜）以及宽范围的低温或高温下观察到。 最常见的扫描电子显微镜模式是检测由电子束激发的原子发射的 二次电子 （secondary electron）。
場發射掃描電子顯微鏡 是一種比較簡單的電子顯微鏡，它觀察樣本上因強電場導致的 場發射 所散發出來的電子。 假如觀察的是透過樣本的掃描電子的話，那麼這種顯微鏡被稱為 掃描透射電子顯微鏡 （Scanning Transmission Electron Microscopy，STEM）。 冷凍電鏡，就是用於掃描電鏡的超低溫冷凍制樣及傳輸技術（Cryo-SEM）可實現直接觀察液體、半液體及對電子束敏感的樣品，如生物、高分子材料等。 樣品經過超低溫冷凍、斷裂、鍍膜制樣（噴金/噴碳）等處理後，通過冷凍傳輸系統放入電鏡內的冷台（溫度可至-185℃）即可進行觀察。 其中，快速冷凍技術可使水在低溫狀態下呈玻璃態，減少冰晶的產生，從而不影響樣品本身結構，冷凍傳輸系統保證在低溫狀態下對樣品進行電鏡觀察。
電子顯微鏡 （英語： electron microscope ，簡稱 電鏡 或 電顯 ）是使用 電子 來展示物件的內部或表面的 顯微鏡 。 高速的電子的波長比可見光的波長短（ 波粒二象性 ），而顯微鏡的分辨率受其使用的波長的限制，因此電子顯微鏡的分辨率（約0.2 奈米 ）遠高於光學顯微鏡的分辨率（約200奈米）。 [1] 技術. 電子顯微鏡的主要組成部分是： 電子源，是一個釋放自由電子的 陰極 ，一個環狀的 陽極 加速電子。 陰極和陽極之間的電壓差必須非常高，一般在數千伏到3百萬伏之間。 電子透鏡，用來聚焦電子。 一般使用的是磁透鏡，有時也有使用靜電透鏡的。 電子透鏡的作用與 光學顯微鏡 中的光學透鏡的作用是一樣的。
扫描电子显微镜 （英語： Scanning Electron Microscope ，缩写为SEM），简称 扫描电镜 ，是一种通过用聚焦 电子束 扫描样品的表面来产生样品表面图像的 电子显微镜 。 显微镜电子束通常以 光栅扫描 （英语：Raster scan） 图案扫描。 电子 与样品中的 原子 相互作用，产生包含关于样品的表面 测绘学形貌 和组成的信息的各种信号，信号与光束的位置组合而产生图像。 扫描电子显微镜可以实现的分辨率优于1 纳米 。 样品可以在高真空，低真空，湿条件（用环境扫描电子显微镜）以及宽范围的低温或高温下观察到。 最常见的扫描电子显微镜模式是检测由电子束激发的原子发射的 二次电子 （secondary electron）。
穿透式電子顯微鏡可放大80萬倍，可以看出分子的形象；掃描式電子顯微鏡可用以觀察立體的表面，放大倍率約20萬倍。電子顯微鏡分為透射電子顯微鏡、能量過濾透過式電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、場發射掃描電子顯微鏡、掃描透射電子顯微鏡等類型。
