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產品分類. 膜厚儀. 以『光學』『非接觸』『高精度』為主軸，配合大塚電子的核心技術光譜儀為心臟部位製成的膜厚量測儀，可在短時間內完成膜厚測量。 非破壞式膜層進行高速膜厚解析，有平行光、顯微鏡、橢圓偏光、全幅寬、產線專用等. 選擇，是企業膜厚計選擇最好的解決方案。 相關技術應用可參考 📖 技術文章-膜厚儀📖. 應該如何選擇膜厚儀 🔖膜厚計推薦選擇指南🧾. 也可以直接洽詢我們 📞洽詢膜厚相關設備📧. 部分機型提供付費委測服務 🔬付費委測服務說明🥼. 顯微分光膜厚量測儀OPTM series. 高精度、高再現性量的非接觸式顯微膜厚計。 最小對應spot約3μm、單點對焦加量測於1秒內完成. 橢圓偏光量測儀FE-5000S. 使用光譜橢圓法分析方法的薄膜厚度測量儀。 優恵的價格提供薄膜的全方位量測。
膜厚計 - PChome 24h購物. 共找到 80 筆. 搜尋結果. 依館別顯示↓. 分類. 修繕裝潢. 未分類. 主要材質. 複合性材料. 適用於. 2.9m以下. 綜合排序. 新上市. 價格排序. - 確定. 全部商品. 有貨商品. 超商取貨. i郵箱取貨. 結帳85折 修繕小物. A-CTG140 軟塗層厚度測量儀//機械式/侵入型0-140mm. 機械式 侵入型 量測精準. 折扣. $1993售價已折. 結帳85折 修繕用品. 550-CTG+2S 膜厚計. 360度四向螢幕旋轉 任何方位都可以看清楚 100個獨立數值 每組可儲存15筆數據 採用微米級高精度口徑探頭 自動識別基底材質屬性. 折扣. $3405售價已折. 結帳85折 修繕小物. 130-CM8806 高精度漆膜厚度儀
打開網頁查找各種原理、各種廠牌的膜厚計（膜厚儀），你會發現市面上產品琳瑯滿目，不知道該從何挑選？ 基本上，大致可分成2種：接觸式（破壞式）以及非接觸式（非破壞式）膜厚計兩種。
膜厚儀又名膜厚測試儀，分為手持式和台式二種，手持式又有磁感應鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，螢光X射線儀鍍層測厚儀。 手持式的磁感應原理是，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。 也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。 基本介紹. 中文名 ：膜厚儀. 外文名 ：film thickness gauge. 別名 ：膜厚測試儀. 分類 ：磁感應膜厚儀、電渦流膜厚儀等. 原理 ：電磁感應磁性原理. 磁感應測量原理. 採用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。 也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。 覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。 利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。
膜厚計 台灣中澤代理知名品牌有英國Eloometer膜厚計、德國ERICHSEN、英國Eloometer、英國牛津儀器OXFORD: X射線螢光膜厚測量儀系列、200系列塗(鍍)層厚度測試儀，五金、螺絲、絕緣體及電鍍業、 CMI 760(MRX)：高靈敏度銅厚測試儀。
膜厚計的正確使用方式. 所有塗裝膜厚計 (電磁/渦電流)，皆需依以下步驟校正再使用。 若直接對已完成塗裝之成品進行測量，無法測得正確的絕對數值，僅可得相對數值。 STEP.01. 在尚未塗裝的基材上進行歸零. STEP.02. 在基材上放置標準片並測量，依標準片數值進行校正. STEP.03. 前述動作完成後，便可開始在已塗裝的基材上測量塗裝厚度. Kett LZ-990. 電磁/渦電流兩用 塗裝膜厚計. 電磁測定範圍：0~2000μm. 渦電流測定範圍：0~2000μm. 測定精度：50μm以內±1μm. 泛用性高 熱銷款. More. Kett LZ-373. 電磁/渦電流兩用 塗裝膜厚計. 電磁測定範圍：0~2500μm. 渦電流測定範圍：0~1200μm.
台灣中澤-薄膜測厚儀、渦電流式鍍層測厚儀為桌上型非破壞性接觸式塗(鍍)層薄膜測厚儀。 無損測量各種金屬鍍層。 精度高、穩定性好，可測量各種微型部件(Φ2.5mm)
為您介紹「膜厚」的最佳量測方法，同時推薦測量儀。 量測透明工件. 量測範例：量測塗佈劑的膜厚. 查看最佳測量儀. 量測半透明的工件. 量測範例：量測塗層薄膜的膜厚. 查看最佳測量儀. 量測不透明工件. 量測範例：量測焊膏的膜厚. 查看最佳測量儀. 查閱PDF了解詳情. 膜厚量測上的注意事項. 目標物透明時. 關於目標物的折射率的影響. 利用光的位移計中，由於如圖1所示的目標物的折射率的影響，無法直接求出實際的厚度。 （量測空氣間隙厚度時可以直接求出。 一般來說，利用光的干涉的位移計中，測得的值除以折射率可以得出實際厚度。 共焦原理的位移計中，測得的值乘以折射率可以得出幾乎等同於實際厚度的值，但嚴格來說仍有少許偏差，因此建議先量測已知厚度的目標物確定跨度值。
SI-F系列. 推出ø2 mm的微型感測頭. 世界首款 超小型、高精度光纖頭位移計. 詳情請參閱此處. 下載型錄. 紅外線吸收式膜厚計. 向量測目標照射紅外線，依據透過光（或反射光）的分光光譜量測特定波長的吸光度，換算為膜厚。 依據各材料的「吸收光譜與膜厚的關係」，選擇不同膜厚下吸光度變化大的波長作為特定波長。 靜電容量式膜厚計. 在與感測器相對的方向上固定導體面，透過量測將量測目標（絕緣體）放入兩者之間時的靜電容量，量測膜厚。 很多情況下量測目標的介電常數不明，因此分別量測未放入任何物體時和放入已知厚度目標物時的靜電容量進行計算。 放射線式膜厚計（β射線式、X射線式） 向量測目標照射放射線，部分散亂至後方，該散亂射線量受到該物質的厚度以及電子編號的影響而有所不同。
解析度 0.25 μm. 世界最小， ø2mm微型感測頭. 高速移動產線也能精準測量膜厚10μm以上透明膜. 點此下載型錄與業界實例.
