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  1. 光學膜厚儀 相關

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  2. 4 天前 · 測量不透明薄膜厚度的方法通常是通過測量方塊電阻通過其電阻與橫截面積得到其膜厚採用的設備一般為四探針台將四根探針等距離放臵通過對最外兩根探針施加電流從而測量其電勢差計算被測薄膜的方塊電阻。 目前市場主要供應商為 KLA(Omni Map 系列)。 而透明薄膜則通常基於橢圓偏振技術,對光譜範圍內的偏振變化進行分析,各種薄膜層提供高精度薄膜測量,由於膜應力、折射率等物理性質同樣需要橢圓偏振及干涉技術進行測量,因此目前主流的膜厚測量設備同時集成了應力測量、折射率測量等功能,目前該類設備市場主要供應商為 KLA(Aleris 系列、SpectraFilm 系列)、上海精測(EFILM 系列)。

  3. 2024年5月13日 · 新推出的奈米級X-Ray膜厚量測儀FT160系列配置了聚焦光學系統光學管和矽漂移檢測器SDD),加強樣品的照明系統不僅操作上更加容易擁有優異的解析能力多款式機型可依據鍍層應用不同及樣品大小提供選擇在量測工作上能夠提供更多的幫助。 精選產品. FT230 X-Ray金屬鍍層膜厚儀. 日立 X-Ray 異物分析裝置. ThermoFisher X光繞射儀 (XRD) 日立 FT160 系列X射線螢光鍍層厚度測量儀. 日立 FT110A 系列X射線螢光鍍層厚度測量儀. 斷面觀察用超音波切片裝置.

  4. 3 天前 · 影像尺寸量測儀 (1) 條碼讀取器 (1) 醫療零件快速投影量測 1:14. 飄動中的透明薄膜測厚 1:14. 高頻振動量測 0:33. 工件的持續厚度量測 1:12. 最佳LED測微計 1:35. WI-5000 系列 00:46. 在狹小空間執行高精度量測 1:20.

  5. 4 天前 · 首頁. 精選產品. 螢光X線膜厚計. 放大圖片. 螢光X線膜厚計. 產品型號:EX-731. 產品分類: 硬板用設備 / 硬板用檢測製程設備 / 膜厚量測儀. 立即線上詢問. 產品特色. 1.測量項目: 單層膜厚測定. 2層膜厚測定. 3層膜厚測定. 合金膜厚成份比同時測定. 化學鎳膜厚測定. 壓鑄鋅底材上鍍銅、鎳二層膜厚同時測定. 元素的光譜峰值測定分析. 2.測量材質:原子序22 (Ti) ~ 83 (Bi)為激發法測量。 原子序22以下為吸收法測量。 3.測量範圍:原子序22 ~ 24 , 約 0.02 ~ 20 um. 原子序25 ~ 40 , 約 0.01 ~ 30 um. 原子序 41 ~ 51 , 約 0.02 ~ 70 um.

  6. 2024年5月20日 · 精選產品. 日立 FT160 系列X射線螢光鍍層厚度測量儀. 產品型號:FT160S/ FT160Sh/ FT160/ Ft160h/ FT160L/ FT160Lh. 產品分類: 硬板用設備 / 硬板用檢測製程設備 / X光測厚. 產品特色新推出的奈米級X-Ray膜厚量測儀FT160系列配置了聚焦光學系統(... 立即詢問. 日立 FT110A 系列X射線螢光鍍層厚度測量儀. 產品型號:FT110A. 產品分類: 硬板用設備 / 硬板用檢測製程設備 / X光測厚儀. 產品特色:Hitachi X-Ray 螢光膜厚儀,應用在螺絲、裝飾電鍍、電子元件... 立即詢問.

  7. 4 天前 · 产品亮点. 专为高通量生产而设计,来看 FT110A 如何支持您的质量控制。 强大的高灵敏度技术可在几秒钟内提供结果. 对成品安全的无损检测. 自动化功能提高生产力. 分析多达四层和基材,加上电镀液. 易于非专业操作员使用. 测量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987. 大样品舱可容纳各种样品. 可定制的选项以适合您的应用. 下载. 样本. 技术报告. 白皮书和指南. 查看 FT110A 的实际应用. 联系我们.

  8. 2024年5月13日 · 如何精確控制塑料色彩包括來料檢測實驗室塑膠色彩檢測配色塑膠透光率檢測生產線上線上測色品質控制著色劑的自動閉環控制和終檢等各個環節才讓色彩和光澤始終保持一致? - 技術應用 - 2024.05.20. X-rite-色差儀 面對塑料供應商的色母粒配色的色彩測量解決方案. 塑料供應商管理色母粒的色彩配方和種類,需確保色彩再現性及減少材料浪費。 創新的配色方案能快速準確地完成配色,同時充分利用下角料,並協助您快速獲取色母粒的配色配方。 - 技術應用 - 2024.05.13. 質譜儀-Mass 利用 JEOL msFineAnalysis AI 提升中藥材化學成分分析效率. 中藥分析較西藥複雜,常用GC-MS做定性分析。