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膜厚量測儀FE-300. 薄膜到厚膜的量測範圍、UV~NIR光譜分析. 高性能的性價比光學薄膜量測儀. 藉由絕對反射率光譜分析膜厚. 無複雜設定，操作簡單，短時間內即可上手. 線性最小平方法解析光學常數（n:折射率、k:消光係數）. 前往洽詢車.
大塚科技提供多台不同技術特性的膜厚儀，包含顯微分光膜厚儀、橢圓偏光量測儀等等，最小可以對應spot約3μm，針對各行各業，皆可在大塚科技找到適合的膜厚儀。.
Filmetrics在全球已賣出超過五千台的膜厚量測儀，以其操作簡單及量測快速聞名。只需要點擊一下滑鼠，我們就可以通過分析薄膜如何反射光 (反射光譜) 來獲得薄膜特性。不論您是想要知道薄膜厚度、光學常數，還是要知道材料的反射率和穿透率。
膜厚計. 台灣中澤代理知名品牌有英國Eloometer膜厚計、德國ERICHSEN、英國Eloometer、英國牛津儀器OXFORD: X射線螢光膜厚測量儀系列、200系列塗 (鍍)層厚度測試儀，五金、螺絲、絕緣體及電鍍業、 CMI 760 (MRX)：高靈敏度銅厚測試儀。. 如您對我們代理的膜厚計有興趣 ...
膜厚量測儀、接觸式輪廓儀可量測樣品表面的形狀，辛耘引進KLA Corporation最專業的膜厚量測儀、接觸式輪廓儀，為各種量測情況所量身打造的最佳解決方案
光學膜厚量測儀主要是使用垂直的光源入射樣品，偵測反射光譜的非接觸技術，不需要任何樣品準備就可以測量厚度，適用於半透膜樣品，只需一秒鐘分析從薄膜反射的光就可確定薄膜厚度，光學膜厚量測儀還可以測量多層薄膜的厚度。
獻給尋找膜厚計的人 依據目標物的形狀和材質、測量儀的種類等多個因素，選擇最適合膜厚的量測方法十分重要。 若是選擇了不適合的測量儀，可能導致無法達到要求精度，或是運用工時增加等，因此需要盡量避免。
為您介紹膜厚計。. KEYENCE運營的「量測知識庫」是匯總了厚度/寬度/外徑等量測相關的基本原理、種類和量測方法的技術知識等各種資訊的網站。.
解析度 0.25 μm. 世界最小， ø2mm微型感測頭. 高速移動產線也能精準測量膜厚10μm以上透明膜.
台灣中澤-薄膜測厚儀、渦電流式鍍層測厚儀為桌上型非破壞性接觸式塗 (鍍)層薄膜測厚儀。 無損測量各種金屬鍍層。 精度高、穩定性好，可測量各種微型部件 (Φ2.5mm)
