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讓專家介紹4種市面上常見的膜厚計，辨別接觸式及非接觸式膜厚計，從膜厚量測原理、適合的膜材及應用場景，迅速上手各機型的特點！ 大塚科技股份有限公司
大塚科技提供多台不同技術特性的膜厚儀，包含顯微分光膜厚儀、橢圓偏光量測儀等等，最小可以對應spot約3μm，針對各行各業，皆可在大塚科技找到適合的膜厚儀。.
光學式的膜厚量測有不會接觸膜面，以及可以得知光學參數等優點。 現行光學薄膜膜厚量測法，可大致分為反射分光法與橢圓偏光法兩種。 這兩種兩測法究竟有什麼不同，請見下面內容。
膜厚量測儀、接觸式輪廓儀可量測樣品表面的形狀，辛耘引進KLA Corporation最專業的膜厚量測儀、接觸式輪廓儀，為各種量測情況所量身打造的最佳解決方案
光學膜厚量測儀 (Thin Film Analyzer) 技術原理. 光學膜厚量測儀主要是使用垂直的光源入射樣品，偵測反射光譜的非接觸技術，不需要任何樣品準備就可以測量厚度，適用於半透膜樣品，只需一秒鐘分析從薄膜反射的光就可確定薄膜厚度，光學膜厚量測儀還可以測量 ...
獻給尋找膜厚計的人. 依據目標物的形狀和材質、測量儀的種類等多個因素，選擇最適合膜厚的量測方法十分重要。. 若是選擇了不適合的測量儀，可能導致無法達到要求精度，或是運用工時增加等，因此需要盡量避免。. 本頁面中將為尋找膜厚計的人提供指導 ...
F20是世界上最暢銷的桌上型薄膜厚度量測系統，提供多種附件和厚度覆蓋範圍。 在全球有數百種應用，膜厚和折射率可以在不到一秒的時間內完成測量。 不同型號的 F20 主要區別在於厚度測量範圍，而厚度測量範圍又取決於儀器的波長範圍。 有多種配件選擇，可滿足絕大部分薄膜厚度量測需求。 F3-sX採用近紅外光（NIR）來測量膜層厚度，可測量許多半導體及不透明膜層的厚度，可測厚度達3mm。 此類厚膜，相較於較薄膜層表面較粗糙且不均勻。 F3-sX系列配置10微米的測試光斑直徑，因而可以快速容易的測量其他膜厚測試儀器不能測量的材料膜層。 而且能在一秒內完成量測。 詳細規格. F40是結合顯微鏡物鏡和彩色攝影機的膜厚量測儀，適合需要在待測樣品表面上進行微小限定區域的量測，或者其他應用要求小光斑時的最好選擇。
膜厚計 Thickness Meter. 非破壞式膜厚計可用於測量各種物品表面塗層，依據不同底材與塗層選擇合適的儀器類型。. 使用膜厚計檢查塗層厚度是否達到特定要求及塗佈是否平均。.
分光干涉式膜厚計 向量測目標照射寬波長頻帶的光，對表面和背面反射的光的干涉強度光譜進行FFT分析，從而量測膜厚。用量測結果除以量測目標的折射率求出膜厚。光源有SLD、LED、鹵素燈等，依據膜厚範圍、光點尺寸、速度、壽命等選擇。
市面上有許多膜厚分析方式，其中最常見的三種分別是XRF膜厚分析、渦電流測厚、超音波測厚等方式，這幾種方式的差異為何？ 如何選擇合適的量測方式？
