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穿透式電子顯微鏡 （英語： Transmission electron microscope ，縮寫： TEM 、 CTEM ），簡稱 透射電鏡 ，是把經加速和聚集的 電子 束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。. 散射角 的大小與樣品的密度、厚度相關，因此 ...
穿透式電子顯微鏡 (Transmission Electron microscopy, TEM)主要是一種使用高能量電子束讓超薄的樣品成像，其影像解析度可達0.1奈米的原子等級，用以觀察材料微結構或晶格缺陷的分析儀器。. 破解半導體差排軌跡 TEM技術找出晶片漏電真因. 氮化鎵磊晶層差排類型分析 ...
2009年9月9日 · 顧名思義，穿透式電子顯微鏡裡的穿透，便是高能電子束能量遠大於物體本身的位壘，可由圖1暸解. 由於物質含有粒子與波動兩種特性，在微觀世界中，量子力學扮演起重要的角色，而TEM最主要的工作原理便來自與此。 (附註：圖一中E1的穿遂效應是量子力學的特點，在古典力學裡此現象不可能發生，利用此效應可發展上述所提到的掃描穿隧式電子顯微鏡 STM) 由下列兩式，得知能量與波長之關係。 1. 德布羅意波 (de Broglie)物質波. λ = h p. 2.愛因斯坦 (Einstein)狹義相對論得知當速度趨近於光速時，能量需考慮靜止能量. E = p2c2 +m20c4. 可整理得表二：電子束能量與波長關係. 接著則考慮高能電子束打在樣品上，會帶來哪些訊息：
2022年4月1日 · 電子顯微鏡主要分為兩種，分別為掃描式電子顯微鏡（scanning electrons microscopes, SEM），以及穿透式電子顯微鏡（transmission electron microscopes, TEM）。 SEM的電壓範圍通常介於1 ～ 25千伏（kV），此顯微鏡是藉由電子束掃描樣品的表面，使樣品表面上的每個位置產生電子 ...
分析穿透式電子顯微鏡 (analytical electron microscopy, AEM) 以掃描穿透式電子顯微鏡 (scanning transmission electron microscopy, STEM) 形式為主，加裝 X 射線能量散布分析儀 (energy dispersive X-ray spectrometer, EDS) 和電子能量損失譜儀 (electron (3,4)。
穿透式電子顯微鏡 (transmission electron microscopy, TEM) 藉由分析穿透式片後受試片中各種不同原子、結構產生不同程度繞射的散射電子產生的明暗變化，因此可以解析試片的內部原子結構 (2-5)。
在能量過濾穿透式電子顯微鏡（Energy Filtered Transmission Electron Microscopy，EFTEM）中人們測量電子通過樣本時的速度改變。 由此可以推測出樣本的化學組成，比如 化學元素 在樣本內的分布。
