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產品介紹. Leica 離子束剖面研磨 (CP) EM TIC 3X 三離子剖面拋光機. Lecia EM TIC-3X 三離子剖面拋光機. Leica EM TIC-3X Triple Ion-Beam Milling System (SEM Mill) 汎達嚴選代理德國大廠Leica離子拋光機，利用氬離子束進行拋光，無一般物理研磨拋光會造成的應力破壞，並能解決軟性材料在研磨過程中出現的延展問題，離子拋光機是實驗室、科技廠及有材料分析需求企業的優質選擇。 離子拋光機適用於任何材料，獲得一高品質且無應力破壞的剖面以作為 OM / SEM / EDS / WDS / EBSD 觀察分析。
- dia.38x12 (H)mm
- 0-30∘
- dia.25mm
- ±20°, ±45°, ±90°, ±180°, ±360°
share： 截面拋光機. Ion Beam Polisher 型號：CP-8000+. CP-8000+ 是一種先進的樣品製備工具，可利用氬離子束蝕刻樣品的橫截面。 此過程可避免物理變形和結構損壞，而無需複雜的化學過程。 此外，該系統還能處理從幾十㎛到幾mm㎛的大面積樣品，從而簡化了樣品的橫斷面分析。 加入洽詢. 產品特點 產品規格 Features Specifications. CP-8000+ 是一種先進的樣品製備工具，可利用氬離子束蝕刻樣品的橫截面。 此過程可避免物理變形和結構損壞，而無需複雜的化學過程。 此外，該系統還能處理從幾十㎛到幾mm的大面積樣品，從而簡化了樣品的橫斷面分析。 應用. CP-8000+ 是一種先進的樣品製備工具，可利用氬離子束蝕刻樣品的橫截面。
Lecia EM TXP 定點切片機是一種用於準備橫截面的獨特精密儀器，它將三項加工技術整合在一台儀器中。 可以對材料樣品進行切割、研磨、拋光一系列的步驟，在此機台上皆可完成。 再搭配上方 LEICA M80 / Z16 立體顯微鏡達到「邊磨邊看」的工作方式。 轉動樣品固定軸能即時觀察切換 top view 及 cross scetion視野，自動進給模式與應力回饋系統能使製樣結果更簡單完美。
Specifications. CP-8000+ 是一種先進的樣品預製備處理工具，使用氬離子束切削樣品的橫截面。 因為不需要復雜的化學過程，可有效避免樣品的物理變形和結構損壞。 該系統可以處理從幾十微米到幾毫米的大面積，簡化了樣品的截面分析。 特點. 以700 μm/hr高速率切削 (基於Si, 8 kV)。 可以儲存/加載常用設置。 自動執行多階序列步驟。 搭配靈巧的樣品載台輕鬆安裝樣品。 透過腔體內置鏡頭即時觀察離子束狀態跟切削情況。 簡便的操作：直觀的圖形用戶介面和簡單操控的觸控螢幕。 對於熱敏樣品可以選擇AUTO BRAM ON / OFF MODE，可依用戶喜好設定離子束強度以及間歇時間，進而最小化樣品的熱破壞。 利用腔體內置鏡頭簡單的將離子束對準樣品。 使用低噪、低震動的無油泵。
CP-8000+ 是一種先進的樣品製備工具，可利用氬離子束蝕刻樣品的橫截面。 此過程可避免物理變形和結構損壞，而無需複雜的化學過程。 此外，該系統還能處理從幾十㎛到幾mm㎛的大面積樣品，從而簡化了樣品的橫斷面分析。
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AutoMet 系列自動研磨拋光機. 專為嚴苛的生產實驗室環境而設計，適用於手動或自動樣品製備，其簡單靈活的操作，讓用戶可以輕鬆地應對多種應用需求。 採用耐用結構設計以提高在頻繁使用環境中的耐用性，而其獨特的快速清潔以及豐富的操作功能，提高了用戶操作的便利性。 AutoMet 250 配備了直觀的薄膜面板控制易於操作，無需使用較大的裝置時，選擇 8” 和 10” 尺寸的研磨盤可優降低砂紙和金剛石成本。 AutoMet 250/300 Pro 配備了全彩色 LCD 觸控式螢幕，可進行程式設計，從而進一步節省成本並獲得高度可重複的結果。 AutoMet 250 特色. 獨特的 D 字型寬大槽體防濺設計，以及增加更換研磨盤的空間. 隱藏式可伸縮沖洗水管，以及 360∘ 內槽清洗系統.
CP-8000+ 是一種先進的樣品製備工具，可利用氬離子束蝕刻樣品的橫截面。 此過程可避免物理變形和結構損壞，而無需複雜的化學過程。 此外，該系統還能處理從幾十 到幾mm的大面積樣品，從而簡化了樣品的橫斷面分析。
