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  1. 2016年10月11日 · 当隐裂导致细栅线断裂时,细栅线无法将收集的电流输送到主栅线,将会导致电池片部分甚至全部失效。 基于上述原因,对电池片功能影响最大的,是平行于主栅线的隐裂(第4类)。 根据研究结果,50%的失效片来自于平行于主栅线的隐裂。 45°倾斜裂纹(第3类)的效率损失是平行于主栅线损失的1/4。 垂直于主栅线的裂纹(第5类)几乎不影响细栅线,因此造成电池片失效的面积几乎为零。 相比于晶硅电池表面的栅线,薄膜电池表面整体覆盖了一层透明导电膜,所以这也是薄膜组件无隐裂的一个原因。 有研究结果显示,组件中某单个电池片的失效面积在8%以内时,对组件的功率影响不大,组件中2/3的斜条纹对组件的功率稳定没有影响。 因此,当组件中的电池片出现隐裂后,可能会产生效率损失,但不必谈隐裂“色变”。 3、检测“隐裂”的手段.

  2. 2018年2月13日 · 地震不属于荷载,地震是一种作用,关于地震作用的规定及验算,见GB50011-2010《建筑抗震设计规范》。 3、荷载的预判 图纸的模拟计算:通过建筑物结构图纸,使用软件(如MTStool、理正结构工具箱等)对主要受力构件(如檩条、楼板等)初步核算。

  3. 2018年4月20日 · 第一部分是光伏类规范,第一个是50797,国标,适用于100千瓦才适用,既有建筑物上增设光伏发电系统,必须进行建筑物结构的安全复核。 参照的标准50144和50292。 而且对抗震设防地区进行抗震鉴定,不满足的还要进行加固。 2008年汶川地震,到2017年,抗震设计规范又调了一次,好多原先不在抗震设防地区,都调整成6度。 10.4.4条规定,进行承载力极限状态和正常使用极限状态的要求,承载力,我们通常说的强度这方面,正常使用,我们使用过程中,变形裂缝达到一定要求,这是对于建筑结构来说。 第二个规范,行业203,也是从总体上来说,要进行安全复核。 还有一个规范是协会的418规范。 主要是国标,一个行标,一个协会标准。 对于户用系统还没有专门的规范。

  4. 2020年8月24日 · 这篇文章先从简单的腐蚀原理入手,接下来的文章会分别从“大气腐蚀”、“土壤腐蚀”和“接触腐蚀”等几部分和大家一起探讨,并分析讲解如何在设计阶段考虑和避免腐蚀带来的影响。 (来源:微信公众号“小树洞谈光伏支架”ID:SolarMountingSystem) 钢铁的宿命. 由于钢铁的物理机械性能比较稳定,塑性好、强度高,所以在工业建筑中,钢铁是使用范围最广的金属材料。 但是钢制材料在大自然中往往容易被腐蚀,轻者产生铁锈影响美观,重者破坏结构质量,导致建筑物的坍塌,造成事故。 据说世界钢材中的十分之一都因腐蚀而报废,可见腐蚀是钢铁无法避开的永恒话题。 套用美剧《权力的游戏》里面经典的一句话就是: “AllMen (Metal) Must Die” 铁钉实验.

  5. 2020年4月29日 · 如今纸组件的把戏是销声匿迹了,不过依然是中国光伏历史上的污点。. No.2:以次充好的组件. 无论是什么产品在生产过程中,都会有些由于加工过程失误产出的次品,例如烟草,食品等,光伏组件亦是如此,假如在随机抽查中发现了此中的劣质组件 ...

  6. 2020年2月25日 · 1隐裂. 隐裂是由光伏组件硅太阳电池的应力或压力导致的裂纹。 这些裂缝通常不能通过肉眼看到,只能通过特定的测试方法。 隐裂是导致光伏组件出现故障或失效的主要原因。 (来源:微信公众号“光伏测试网”ID:TestPV) 2.热斑. 热斑在光伏组件内的局部温升,对太阳能组件的效率和退化造成毁灭性的影响。 热斑不稳定,最终可能会导致组件损毁。 3.火灾. 光伏组件生产中存在的一种极端的潜在危险,尤指在户用光伏屋顶上。 光伏组件火灾并不像隐裂或热斑那样常见,但更多的是由潜在缺陷演变而来的,不管它们看起来多么微不足道。 4.分层. 组件分层是一个严重的问题,因为它使得水分渗透到组件内部,从而将导致灾难性的故障,此时组件则需要被更换。 如图所示: 5.碎裂.

  7. 2020年5月18日 · 隐裂是晶体硅光伏组件的一种较为常见的缺陷,通俗的讲,就是一些肉眼不可见的细微破裂(micro-crack)。 晶硅组件由于其自身晶体结构的特性,十分容易发生破裂。 在晶体硅组件生产的工艺流程中,许多环节都有可能造成电池片隐裂。 隐裂产生的根本原因: 外力:电池片在焊接、层压、装框或搬运、测试等过程中会受外力作用,当参数设置不当、设备故障或操作不当时会造成隐裂。 高温:电池片在低温下没有经过预热,然后在短时间内突然遇到高温后出现膨胀会造成隐裂现象,如焊接温度过高、层压温度等参数设置不合理。 原材料:原材料的缺陷也是导致隐裂的主要因素之一。 根据电池片隐裂的形状,大致可分为5个种类:树状裂纹、综合型裂纹、斜裂纹、平行于主栅线、垂直于栅线和贯穿整个电池片的裂纹。 二、“隐裂”对组件性能的影响.