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ATP Electronics, Inc. (USA) 2590 North First Street, Suite#150 San Jose, CA 95131 USA Tel: +1-408-732-5000 Fax: +1-408-732-5055 sales@atpinc.com.
瞭解更多. ATP DDR3模組可在1.5V（正常）和1.35V（低電壓）功率運作，傳輸速度高達1866 MT/s，提供更好的性能，同時比DDR2消耗更少的功率。. 產品支援Intel® Core™ i7系列處理器、AMD AM3 Phenom™處理器，以及AMD最新的嵌入式企業級晶片組。. DDR3模組與前一代無法相容 ...
ネットワーク / テレコム メモリと NAND フラッシュ ストレージの要件が高まる中、ネットワークおよび電気通信業界は、30 年以上前と同様に ATP Electronics を信頼し続けています。 今日、プライマリ ストレージ、データ センターとクラウド コンピューティング、および WAN エッジ ...
2020年4月8日 · Compliant with JEDEC e.MMC v5.1 specs, ATP e.MMC is an embedded storage solution consisting of an MMC interface, flash memory and controller integrated in a 153-ball (FBGA) package.
2019年9月11日 · 聚焦工业应用的存储解决方案领导厂商ATP Electronics（华腾国际科技）日前发布了其最新产品线E800Pi ，这是业界首款基于SLC （Single Level Cell）闪存 的eMMC产品，其单元擦写耐久性高达6万次以上。
ATP EOL验证测试流程. ATP使用 Gym & Coach System. 系统在驱动器级别执行一系列全面的 EOL测试。 这需要对 SSD 进行多次循环测试，以确定和验证驱动器的耐用性和可靠性。 此测试有助于根据目标 P/E 周期和数据保持时间预测继续使用 SSD 的时间以及 SSD 何时会发生故障。 这样，客户可以决定何时停止使用硬盘，从而制定最终更换的过渡计划。 以下项目在 ATP EOL 验证测试中得到验证： 编程/擦除（P/E）循环检查。 闪存损耗的主要原因之一是执行的 P/E周期数。 在此测试期间，在 SSD 上执行 P/E 循环直到其额定寿命结束，用来检查退化和保留能力。 该测试方法验证我们的质量是否符合数据表上的 TBW 等级。
2018年10月25日 · 3D NAND tests in sustained low, high & cross-temperature profiles have characterized reliability of endurance, data patterns, retention; these traits are then utilized in screening processes to ensure device dependability.
