什麼是電子顯微鏡? 相關
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2022年4月1日 · 電子顯微鏡是依靠電子源（electron source）的特殊材料來產生電子。 為了避免材料氧化，科學家會將電子源加熱並保持在超高真空的環境中，當電子源具有充足的能量時，電磁場會從電子源中提取出電子，這時的電子就可以自由地朝任何方向移動。 這個概念就像聚光一樣，電子會藉由透鏡聚焦，進而形成電子束。 但如果是使用玻璃透鏡，電子在撞擊到玻璃時會被重新吸引，進而改變其行徑路線。 為了解決這個問題，德國物理學家布希（Hans Busch）發明了「電磁透鏡」（electromagnetic lens），能夠以更高的精確度操縱並聚焦電子束。 該方法是將電子束聚焦經過多個電磁透鏡，並將電子加速到所需的電壓，以確保電子束的截面能維持完整的圓形與聚焦。 所有的電子顯微鏡都能看到原子嗎？
電子顯微鏡 （英語： electron microscope ，簡稱 電鏡 或 電顯 ）是使用 電子 來展示物件的內部或表面的 顯微鏡 。 高速的電子的波長比可見光的波長短（ 波粒二象性 ），而顯微鏡的解析度受其使用的波長的限制，因此電子顯微鏡的解析度（約0.2 奈米 ）遠高於光學顯微鏡的解析度（約200奈米）。 [1] 技術[編輯] 電子顯微鏡的主要組成部分是： 電子源，是一個釋放自由電子的 陰極 ，一個環狀的 陽極 加速電子。 陰極和陽極之間的電壓差必須非常高，一般在數千伏到3百萬伏之間。 電子透鏡，用來聚焦電子。 一般使用的是磁透鏡，有時也有使用靜電透鏡的。 電子透鏡的作用與 光學顯微鏡 中的光學透鏡的作用是一樣的。
2024年3月17日 · 掃描電子顯微鏡 (SEM) 是一種電子顯微鏡，它通過使用集中的電子束掃描樣本表面來生成圖像。 電子與樣品中的原子相互作用，產生攜帶有關樣品表面形貌和成分信息的信號。 電子束以光柵掃描模式進行掃描，電子束的位置與檢測到的信號強度相結合以創建圖像。 使用二次電子檢測器，最普遍的 SEM 模式檢測由電子束（Everhart-Thornley 檢測器）激發的原子產生的二次電子。 可檢測到的二次電子數量，以及由此產生的信號強度，取決於樣品形貌等因素。 某些 SEM 的分辨率大於 1 納米。 在高真空、低真空或潮濕條件下的可變壓力或環境 SEM 中，以及在廣泛的低溫或更高溫度下使用專用儀器觀察樣品。
2022年5月16日 · 光學顯微鏡的解析度受限於光的波長，為了獲得更精細的影像，科學家利用電子製造了電子顯微鏡。 電子顯微鏡的解析度是光學顯微鏡的1,000倍之多，甚至達到奈米等級。 電子顯微鏡主要分為SEM及TEM兩種。 前者藉由電子束掃描樣品的表面，使樣品表面上產生電子訊號，再經電子偵測器接收後合成圖像；後者則是利用較高的加速電壓，使電子束將獲得足夠的能量穿透樣品，並由偵測器接收訊號。 SEM的特色為價格較低，容易建置與操作；TEM則價格高昂且需要更大的專屬空間，並需要由專業人員操作，影像解析能力較強。 1931年，德國物理學家魯斯卡（Ernst Ruska）製造出第一台電子顯微鏡，這項發明也讓他在1986年獲得了諾貝爾物理學獎。
2019年11月4日 · 電子顯微鏡使用電子束成像，就如同光學顯微鏡是利用可見光。 SEM使用特定的電子掃描光束，使用被反射或從樣品近表面區域擊落的電子來形成圖像。 由於電子的波長遠小於光的波長，因此SEM的分辨率優於光學顯微鏡。 市面上電子顯微鏡分為兩種主要類型： 1.透射電子顯微鏡（TEM），使用電子檢測穿過非常薄的樣本成像。 2.掃描電子顯微鏡（SEM），它使用被反射或從樣品的近表面區域擊落的電子來產生圖像。 SEM技術如何運作？ 現在我們將專注於SEM上。 SEM技術的示意圖如下方圖1所示。 在這種電子顯微鏡中，用電子束掃描樣品。 首先，電子藉由燈絲聚焦電子槍頂端產生。 當它們的熱能克服了燈絲材料的功函時，就會發出這些光，然後它們被加速並被帶正電的陽極吸引。
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2017年3月26日 · 電子顯微鏡以電子成像，好處是解像力至少比光學顯微鏡好上 1000 倍，奈米等級的構造能清晰辨識；缺點則是電子顯微鏡下的世界只有黑白。 光學顯微鏡以可見光成像，好處是可以利用不同顏色的染劑讓組織不同結構呈現不同顏色，讓人眼容易判別。 圖／Pinterest. 電子顯微鏡下的花粉。 source：wikimedia. 因為利用電子成像，偏偏人眼無法接收電子訊號，於是電子顯微鏡的設計中，需要將電子訊號轉換成人眼可接收的光訊號，我們才能觀察到樣本在電子束照射下呈現出來的影像。 只是，電子訊號轉換成光訊號時，單純以光強度顯示差異：較多電子訊號的地方較亮，較少電子訊號的地方較暗，也因此，影像通常以灰階、也就是黑白的方式呈現。
掃描電子顯微鏡 （英語： Scanning Electron Microscope ，縮寫為SEM），簡稱 掃描電鏡 ，是一種通過用聚焦 電子束 掃描樣品的表面來產生樣品表面圖像的 電子顯微鏡 。 顯微鏡電子束通常以 光柵掃描 （英語：Raster scan） 圖案掃描。 電子 與樣品中的 原子 交互作用，產生包含關於樣品的表面 測繪學形貌 和組成的資訊的各種信號，信號與光束的位置組合而產生圖像。 掃描電子顯微鏡可以實現的解析度優於1 奈米 。 樣品可以在高真空，低真空，濕條件（用環境掃描電子顯微鏡）以及寬範圍的低溫或高溫下觀察到。 最常見的掃描電子顯微鏡模式是檢測由電子束激發的原子發射的 二次電子 （secondary electron）。
