搜尋結果
2021年6月29日 · The integrity of devices and data is constantly threatened by unplanned power outages and high operating temperatures. SSDs continue to function dependably and maintain data integrity according to ATP's Four-Corner, Temperature Cycling, and Power Cycling
部落格 ATP的官方部落格提供關工業級記憶體和嵌入式儲存技術當前與新興趨勢的普及知識、新聞和意見的資源庫。關於我們 我們透過高效能且耐用的NAND快閃記憶體產品和DRAM記憶體模組，持續改變工業和企業運用的面貌。
2024年3月21日 · 描述. 内置176层NAND，拥有令人印象深刻的5000+次擦写 (P/E)循环耐久力，ATP的E1.S固态硬盘采用先进的PCIe®接口和NVMe协议技术，旨在实现最佳性能。. 专为1U边缘服务器设计，ATP的E1.S固态硬盘设计用于垂直放置在小占用空间的系统中，在1U机箱中允许多达6到12个驱动 ...
- 3D TLC
- N651Si
- PCIe G4 x4
- Superior
ATP Electronics | The Global Leader in Specialized Storage and Memory Solutions. ATP 致力於保護您的隱私。. 為了符合新的歐盟通用數據保護法規（GDPR）要求，我們已經更新了我們的 隱私政策 ，以告知您我們如何收集數據，以提供ATP網站上的增強內容和體驗。. For over 30 years, ATP is ...
Built with 176-layer NAND and boasting an impressive 5,000+ program/erase (P/E) cycle endurance, ATP's E1.S SSDs are designed for optimal performance leveraging cutting-edge PCIe® interface and NVMe protocol technologies. Engineered for 1U Edge servers, ATP's E1.S SSDs are designed for vertical placement in small-footprint systems, allowing up ...
2021年6月29日 · ATP使用 Gym & Coach System. 系统在驱动器级别执行一系列全面的 EOL测试。 这需要对 SSD 进行多次循环测试，以确定和验证驱动器的耐用性和可靠性。 此测试有助于根据目标 P/E 周期和数据保持时间预测继续使用 SSD 的时间以及 SSD 何时会发生故障。 这样，客户可以决定何时停止使用硬盘，从而制定最终更换的过渡计划。 以下项目在 ATP EOL 验证测试中得到验证： 编程/擦除（P/E）循环检查。 闪存损耗的主要原因之一是执行的 P/E周期数。 在此测试期间，在 SSD 上执行 P/E 循环直到其额定寿命结束，用来检查退化和保留能力。 该测试方法验证我们的质量是否符合数据表上的 TBW 等级。
2024年3月6日 · DDR5承诺更快的性能，更高的内存带宽，更高的密度，以及一个新的电源管理结构，提供更好的电源效率。. 所有这些优点，以及更多的优点，都有望满足当前和未来的应用上不断增长的内存需求。. DDR4和DDR5双内联内存模块 (DIMMs)仍然有288个引脚，但DDR5的带宽更高 ...
