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身為全球記憶體專業領導製造商，華騰國際科技專精於提供寬溫與高耐久性的記憶體解決方案，致力於提供客戶高附加價值、多樣性與最佳性價比的記憶體產品。 身為專業記憶體製造商，華騰國際科技重視產品生產流程的每一個環節，以確保提供高品質與高耐久性的記憶體產品。 我們秉持高標準的製造流程與對所有員工、環境與企業以及全球供應鏈永續經營的社會責任。 企業責任. 產業認證. 為了符合最嚴格的質量標準和規定，ATP 花了大量的努力確保符合以下認證： 產業認證外，ATP 在特定行業標準的產品驗證方面擁有豐富的經驗，包括： • AEC-Q100 • SNIA • JESD219 • IEC 60529 • IP6X • ATIS • JESD22-A110.
For over 30 years, ATP is the leading provider of Specialized Storage and Memory solutions products for industrial applications.
2021年6月29日 · 四象限测试是指在四个象限或测试条件组合下进行的功能测试：工作温度和输入电压的最大值/最小值。 SSD经过多次数据读取和数据写入的重复循环操作，以验证其在不同象限（即每一种作温度和输入电压的组合）下的性能。 图4 四象限（温度和电压的四种组合）测试流程. 下图显示了四象限测试的示意图，其中SSD在以下条件的多次循环，每个条件持续数小时： 高温-高压； 高温-低压； 低温-高压； 低温-低压； … 高温-低压； 高温-高压；
English. 2024-02-29 356.91KB. ATP NVMe SSDs提供企業客製化的選擇，包含40 GB至3.84 TB等不同容量的規格，滿足企業全方位的需求；同時提供專屬的散熱片解決方案，其透過硬體與韌體的組合，如銅箔材質或散熱鰭片的應用，確保產品持續有效散熱，並保持最佳性能。 除此之外，產品支援寬溫作業，即使身處在-40°C到85°C的嚴苛環境，也能展現優異的效能。
2023年8月7日 · On‑die ECC is a way of managing the bit flips so more cells pass the validation method during the production or manufacturing stage. This allows more cells to reach JEDEC-required specifications. It provides protection for data on the die but not for data in transit or data that is being moved to/from the memory module and the CPU/GPU.
2021年6月29日 · Reliability Demonstration Test (RDT) is a rigorous test performed on ATP solid state drives (SSDs) over extended periods of time to demonstrate that each SSD meets the strictest quality requirements. All testing parameters aim to validate the mean time between failures (MTBF) rating of the drive.
2019年6月6日 · Figure 1. Program (write) and erase operations on the NAND flash cell require the application of high voltage, which causes stress on the Tunnel Oxide. As P/E cycles increase, the Tunnel Oxide weakens, causing electrons to leak out from the Floating Gate and the NAND flash cell to degrade. More bits per cell.
