電子顯微鏡應用 相關
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2022年4月1日 · 電子顯微鏡是依靠電子源（electron source）的特殊材料來產生電子。 為了避免材料氧化，科學家會將電子源加熱並保持在超高真空的環境中，當電子源具有充足的能量時，電磁場會從電子源中提取出電子，這時的電子就可以自由地朝任何方向移動。 這個概念就像聚光一樣，電子會藉由透鏡聚焦，進而形成電子束。 但如果是使用玻璃透鏡，電子在撞擊到玻璃時會被重新吸引，進而改變其行徑路線。 為了解決這個問題，德國物理學家布希（Hans Busch）發明了「電磁透鏡」（electromagnetic lens），能夠以更高的精確度操縱並聚焦電子束。 該方法是將電子束聚焦經過多個電磁透鏡，並將電子加速到所需的電壓，以確保電子束的截面能維持完整的圓形與聚焦。 所有的電子顯微鏡都能看到原子嗎？
電子顯微鏡 （英語： electron microscope ，簡稱 電鏡 或 電顯 ）是使用 電子 來展示物件的內部或表面的 顯微鏡 。 高速的電子的波長比可見光的波長短（ 波粒二象性 ），而顯微鏡的解析度受其使用的波長的限制，因此電子顯微鏡的解析度（約0.2 奈米 ）遠高於光學顯微鏡的解析度（約200奈米）。 [1] 技術 [ 編輯] 電子顯微鏡的主要組成部分是： 電子源，是一個釋放自由電子的 陰極 ，一個環狀的 陽極 加速電子。 陰極和陽極之間的電壓差必須非常高，一般在數千伏到3百萬伏之間。 電子透鏡，用來聚焦電子。 一般使用的是磁透鏡，有時也有使用靜電透鏡的。 電子透鏡的作用與 光學顯微鏡 中的光學透鏡的作用是一樣的。
2019年11月4日 · 市面上電子顯微鏡分為兩種主要類型： 1.透射電子顯微鏡（TEM），使用電子檢測穿過非常薄的樣本成像。 2.掃描電子顯微鏡（SEM），它使用被反射或從樣品的近表面區域擊落的電子來產生圖像。 SEM技術如何運作？ 現在我們將專注於SEM上。 SEM技術的示意圖如下方圖1所示。 在這種電子顯微鏡中，用電子束掃描樣品。 首先，電子藉由燈絲聚焦電子槍頂端產生。 當它們的熱能克服了燈絲材料的功函時，就會發出這些光，然後它們被加速並被帶正電的陽極吸引。 您可以從另一篇文章關於不同類型電子源及其特性的文章中獲得更詳細的說明。 圖一：典型SEM配件示意圖. 整個電子槍必須處於真空狀態，像電子顯微鏡的所有組件一樣，電子源也被密封在一個特殊的艙內，以保持真空並保護其免受污染、振動或噪音干擾。
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電子顯微鏡是什麼?
穿透式電子顯微鏡可以做什麼?
光學顯微鏡有什麼好處?
穿透式電子顯微鏡的主要偵測資料有哪三種?
2023年12月19日 · 掃描式電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope, SEM）是一種高解析度的電子顯微鏡，使用高能電子束來掃描樣品表面，透過偵測器接收電子信號，進而轉換生成影像。 掃描式電子顯微鏡與樣品交互作用可產生多種信號，如二次電子（Secondary Electron）、背向散射電子（Backscattered Electron）和特徵X射線（Characteristic X-ray）等。 使用不同的偵測器分別接收這些信號，可以對樣品取得更全面的瞭解。 SEM掃描式電子顯微鏡組成. SEM掃描式電子顯微鏡接收電子信號. SEM掃描式電子顯微鏡：二次電子信號成像.
2017年3月26日 · 電子顯微鏡以電子成像，好處是解像力至少比光學顯微鏡好上 1000 倍，奈米等級的構造能清晰辨識；缺點則是電子顯微鏡下的世界只有黑白。 光學顯微鏡以可見光成像，好處是可以利用不同顏色的染劑讓組織不同結構呈現不同顏色，讓人眼容易判別。 圖／Pinterest. 電子顯微鏡下的花粉。 source：wikimedia. 因為利用電子成像，偏偏人眼無法接收電子訊號，於是電子顯微鏡的設計中，需要將電子訊號轉換成人眼可接收的光訊號，我們才能觀察到樣本在電子束照射下呈現出來的影像。 只是，電子訊號轉換成光訊號時，單純以光強度顯示差異：較多電子訊號的地方較亮，較少電子訊號的地方較暗，也因此，影像通常以灰階、也就是黑白的方式呈現。
穿透式電子顯微鏡 （英語： Transmission electron microscope ，縮寫： TEM 、 CTEM ），簡稱 透射電鏡 ，是把經加速和聚集的 電子 束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。 散射角 的大小與樣品的密度、厚度相關，因此可以形成明暗不同的影像，影像將在放大、聚焦後在成像器件（如 螢光屏 、 膠片 、以及 感光耦合組件 ）上顯示出來。 由於電子的 德布羅意波長 非常短，透射電子顯微鏡的解析度比光學顯微鏡高的很多，可以達到0.1～0.2 nm，放大倍數為幾萬～百萬倍。 因此，使用穿透式電子顯微鏡可以用於觀察樣品的精細結構，甚至可以用於觀察僅僅一列原子的結構，比光學顯微鏡所能夠觀察到的最小的結構小數千倍。
2009年9月9日 · STM ：scanning tunneling microscope 掃描穿遂式電子顯微鏡 是一種利用量子力學中的穿隧效應探測物質表面結構的儀器，可以在 低溫下利用探針準確操作原子，例如做一些圖形。 SEM ：scanning electron microscopy 掃描式電子顯微鏡 利用電磁透鏡聚焦高能的電子束而在試片掃描樣品依其所激發出的二 次電子與背向散射電子的接收對試片表面進行分析，可獲得試片表面 的化學成分，晶體缺陷等信息，是對固體物質表面進行綜合分析的儀器。 STEM：scanning & transmission electron microscop 描穿透式電子顯微鏡 即包含掃描式電子顯微鏡與穿透式電子顯微鏡的優點。
