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  2. 穿透式電子顯微鏡 (英語: Transmission electron microscope ,縮寫: TEM 、 CTEM ),簡稱 透射電鏡 ,是把經加速和聚集的 電子 束投射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產生立體角散射。 散射角 的大小與樣品的密度、厚度相關,因此可以形成明暗不同的影像,影像將在放大、聚焦後在成像器件(如 螢光屏 、 膠片 、以及 感光耦合組件 )上顯示出來。 由於電子的 德布羅意波長 非常短,透射電子顯微鏡的解析度比光學顯微鏡高的很多,可以達到0.1~0.2 nm,放大倍數為幾萬~百萬倍。 因此,使用穿透式電子顯微鏡可以用於觀察樣品的精細結構,甚至可以用於觀察僅僅一列原子的結構,比光學顯微鏡所能夠觀察到的最小的結構小數千倍。

  3. 場發射掃描電子顯微鏡 是一種比較簡單的電子顯微鏡它觀察樣本上因強電場導致的 場發射 所散發出來的電子。 假如觀察的是透過樣本的掃描電子的話那麼這種顯微鏡被稱為 掃描透射電子顯微鏡 (Scanning Transmission Electron Microscopy,STEM)。 冷凍電鏡,就是用於掃描電鏡的超低溫冷凍制樣及傳輸技術(Cryo-SEM)可實現直接觀察液體、半液體及對電子束敏感的樣品,如生物、高分子材料等。 樣品經過超低溫冷凍、斷裂、鍍膜制樣(噴金/噴碳)等處理後,通過冷凍傳輸系統放入電鏡內的冷台(溫度可至-185℃)即可進行觀察。 其中,快速冷凍技術可使水在低溫狀態下呈玻璃態,減少冰晶的產生,從而不影響樣品本身結構,冷凍傳輸系統保證在低溫狀態下對樣品進行電鏡觀察。

  4. 2023年3月20日 · 穿透式電子顯微鏡的成像原理是電子束打在樣品上由於樣品組成不同對電子束阻礙亦不同因而造成某些區域電子穿透多某些區域電子穿透少。 電子具有能量,因此穿透多的電子打在螢光板上,會釋出較多的螢光,較亮;穿透少的電子打在螢光板上,會釋出較少的螢光,較暗。 亮暗之間會有對比,因而形成影像。 超微結構 / 電子顯微鏡. Previous Post. Next Post.

  5. 2019年11月4日 · 什麼是SEM? SEM是掃描式電子顯微鏡的縮寫電子顯微鏡使用電子束成像就如同光學顯微鏡是利用可見光SEM使用特定的電子掃描光束使用被反射或從樣品近表面區域擊落的電子來形成圖像由於電子的波長遠小於光的波長因此SEM的分辨率優於光學顯微鏡市面上電子顯微鏡分為兩種主要類型1.透射電子顯微鏡TEM),使用電子檢測穿過非常薄的樣本成像。 2.掃描電子顯微鏡(SEM),它使用被反射或從樣品的近表面區域擊落的電子來產生圖像。 SEM技術如何運作? 現在我們將專注於SEM上。 SEM技術的示意圖如下方圖1所示。 在這種電子顯微鏡中,用電子束掃描樣品。 首先,電子藉由燈絲聚焦電子槍頂端產生。 當它們的熱能克服了燈絲材料的功函時,就會發出這些光,然後它們被加速並被帶正電的陽極吸引。

  6. 2009年9月9日 · B. TEM工作原理. 在1924年 Louis de Broglie提出電子具有波動的特性 (1929年諾貝爾物理獎),與光學顯微鏡的原理利用光的波長來決定影像的解析度Broglie的坡動說無疑地提供了電子顯微鏡的理論基礎1926年Busch發現電子經過電磁場會發生偏折這與光線經過透鏡發生偏折類似顧名思義穿透式電子顯微鏡裡的穿透便是高能電子束能量遠大於物體本身的位壘可由圖1暸解. 由於物質含有粒子與波動兩種特性,在微觀世界中,量子力學扮演起重要的角色,而TEM最主要的工作原理便來自與此。 (附註:圖一中E1的穿遂效應是量子力學的特點,在古典力學裡此現象不可能發生,利用此效應可發展上述所提到的掃描穿隧式電子顯微鏡 STM) 由下列兩式,得知能量與波長之關係。 1.

  7. 2022年4月1日 · 電子顯微鏡是依靠電子源electron source的特殊材料來產生電子。 為了避免材料氧化,科學家會將電子源加熱並保持在超高真空的環境中,當電子源具有充足的能量時,電磁場會從電子源中提取出電子,這時的電子就可以自由地朝任何方向移動。 這個概念就像聚光一樣,電子會藉由透鏡聚焦,進而形成電子束。 但如果是使用玻璃透鏡,電子在撞擊到玻璃時會被重新吸引,進而改變其行徑路線。 為了解決這個問題,德國物理學家布希(Hans Busch)發明了「電磁透鏡」(electromagnetic lens),能夠以更高的精確度操縱並聚焦電子束。 該方法是將電子束聚焦經過多個電磁透鏡,並將電子加速到所需的電壓,以確保電子束的截面能維持完整的圓形與聚焦。 所有的電子顯微鏡都能看到原子嗎?

  8. 電子顯微鏡的主要組成部分是: 電子源,是一個釋放自由電子的 陰極 ,一個環狀的 陽極 加速電子。 陰極和陽極之間的電壓差必須非常高,一般在數千伏到3百萬伏之間。 電子透鏡,用來聚焦電子。 一般使用的是磁透鏡,有時也有使用靜電透鏡的。 電子透鏡的作用與 光學顯微鏡 中的光學透鏡的作用是一樣的。 光學透鏡的焦點是固定的,而電子透鏡的焦點可以被調節,因此電子顯微鏡不像光學顯微鏡那樣有可以移動的透鏡系統。 真空 裝置。 真空裝置用以保障顯微鏡內的真空狀態,這樣電子在其路徑上不會被吸收或偏向。 樣品架。 樣品可以穩定地放在樣本架上。 此外往往還有可以用來改變樣品(如移動、轉動、加熱、降溫、拉長等)的裝置。 探測器,用來收集電子的信號或次級信號。 种类.

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