膜厚儀 相關
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產品分類. 膜厚儀. 以『光學』『非接觸』『高精度』為主軸，配合大塚電子的核心技術光譜儀為心臟部位製成的膜厚量測儀，可在短時間內完成膜厚測量。 非破壞式膜層進行高速膜厚解析，有平行光、顯微鏡、橢圓偏光、全幅寬、產線專用等. 選擇，是企業膜厚計選擇最好的解決方案。 相關技術應用可參考 📖 技術文章-膜厚儀📖. 應該如何選擇膜厚儀 🔖膜厚計推薦選擇指南🧾. 也可以直接洽詢我們 📞洽詢膜厚相關設備📧. 部分機型提供付費委測服務 🔬付費委測服務說明🥼. 顯微分光膜厚量測儀OPTM series. 高精度、高再現性量的非接觸式顯微膜厚計。 最小對應spot約3μm、單點對焦加量測於1秒內完成. 橢圓偏光量測儀FE-5000S. 使用光譜橢圓法分析方法的薄膜厚度測量儀。 優恵的價格提供薄膜的全方位量測。
- 概觀
- 基本介紹
- 磁感應測量原理
- 電渦流測量原理
- XRD
- 膜厚儀的使用
膜厚儀又名膜厚測試儀，分為手持式和台式二種，手持式又有磁感應鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，螢光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應原理是，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。
採用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產品採用指針式表頭，測量感應電動勢的大小，儀器將該信號放大後來指示覆層厚度。一些電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術，利用磁阻來調製測量信號。還採用專利設計的積體電路，引入微機，使測量精度和重現性有了大幅度的提高（幾乎達一個數量級）。現代的磁感應測厚儀，解析度達到0.1um，允許誤差達1%，量程達10mm。
磁性原理測厚儀可套用來精確測量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護層，塑膠、橡膠覆層，包括鎳鉻在內的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業的各種防腐塗層。
高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場，測頭靠近導體時，就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由於這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭採用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較，主要區別是測頭不同，信號的頻率不同，信號的大小、標度關係不同。與磁感應測厚儀一樣，渦流測厚儀也達到了解析度0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。
採用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁製品表面的漆，塑膠塗層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性，通過校準同樣也可測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導電體，但這類任務還是採用磁性原理測量較為合適。
簡單地說螢光X射線裝置(XRF)和X射線衍射裝置(XRD)有所不同。螢光X射線裝置(XRF)能得到某物質中的元素信息。
X射線衍射裝置(XRD)能得到某物質中的結晶信息。
具體地說,比如用不同的裝置測定食鹽(氯化鈉=NaCl)時,從螢光X射線裝置得到的信息為此物質由鈉(Na)和氯(Cl)構成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質由氯化鈉(NaCl)的結晶構成。單純地看也許會認為能知道結晶狀態的X射線衍射裝置(XRD）為好,但當測定含多種化合物的物質時只用衍射裝置(XRD)就很難判定,必須先用螢光X射線裝置(XRF)得到元素信息後才能進行定性。
膜厚儀也叫X射線測厚儀，它的原理是物質經X射線或粒子射線照射後，由於吸收多餘的能量而變成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態，此物質必需將多餘的能量釋放出來，而此時是以螢光或光的形態被釋放出來。螢光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的螢光的能量及強度，來進行定性和定量分析。
測定準備
（1）確保電池正負極方向正確無誤後設定。 （2）探頭的選擇和設定：在探頭上有電磁式和渦電流式2種類型。對準測定對象，在本體上進行設定。
測定方法
（1）探頭的選擇和安裝方法：確認電源處於OFF狀態，與測定對象的質地材質接觸，安裝LEP-J或LHP-J。 （2）調整：確認測定對象已經被調整。未調整時要進行調整。 （3）測定：在探頭的末端加一定的負荷，即使用[一點接觸定壓式]。抓住與 測定部接近的部分，迅速在與測定面成垂直的角度按下。下述的測定，每次都 要從探頭的前端測定面開始離開10mm以上。使用管狀的東西連續測定平面時，如果採用探頭適配器，可以更加穩定地進行測定。
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膜厚計. 台灣中澤代理知名品牌有英國Eloometer膜厚計、德國ERICHSEN、英國Eloometer、英國牛津儀器OXFORD: X射線螢光膜厚測量儀系列、200系列塗 (鍍)層厚度測試儀，五金、螺絲、絕緣體及電鍍業、 CMI 760 (MRX)：高靈敏度銅厚測試儀。 如您對我們代理的膜厚計有興趣歡迎隨時與我們聯繫。 電磁、渦電流雙功能膜厚計. X射線螢光膜厚測量儀. 渦電流式鍍層測厚儀. PCB專用銅厚測式儀. 攜帶式鍍層測厚儀. 微電腦型電解式膜厚機. 塗裝電鍍膜厚計. 表面漆膜檢測. 超音波測厚儀.
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膜厚計的正確使用方式. 所有塗裝膜厚計 (電磁/渦電流)，皆需依以下步驟校正再使用。 若直接對已完成塗裝之成品進行測量，無法測得正確的絕對數值，僅可得相對數值。 STEP.01. 在尚未塗裝的基材上進行歸零. STEP.02. 在基材上放置標準片並測量，依標準片數值進行校正. STEP.03. 前述動作完成後，便可開始在已塗裝的基材上測量塗裝厚度. Kett LZ-990. 電磁/渦電流兩用 塗裝膜厚計. 電磁測定範圍：0~2000μm. 渦電流測定範圍：0~2000μm. 測定精度：50μm以內±1μm. 泛用性高 熱銷款. More. Kett LZ-373. 電磁/渦電流兩用 塗裝膜厚計. 電磁測定範圍：0~2500μm. 渦電流測定範圍：0~1200μm.
「膜厚」的量測方法. 為您介紹「膜厚」的最佳量測方法，同時推薦測量儀。 量測透明工件. 量測範例：量測塗佈劑的膜厚. 查看最佳測量儀. 量測半透明的工件. 量測範例：量測塗層薄膜的膜厚. 查看最佳測量儀. 量測不透明工件. 量測範例：量測焊膏的膜厚. 查看最佳測量儀. 查閱PDF了解詳情. 膜厚量測上的注意事項. 目標物透明時. 關於目標物的折射率的影響. 利用光的位移計中，由於如圖1所示的目標物的折射率的影響，無法直接求出實際的厚度。 （量測空氣間隙厚度時可以直接求出。 一般來說，利用光的干涉的位移計中，測得的值除以折射率可以得出實際厚度。 共焦原理的位移計中，測得的值乘以折射率可以得出幾乎等同於實際厚度的值，但嚴格來說仍有少許偏差，因此建議先量測已知厚度的目標物確定跨度值。
