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2022年4月1日 · 電子顯微鏡的解析度是光學顯微鏡的1000 倍之多，甚至可以達到奈米等級。 電子顯微鏡主要分為SEM 及TEM兩種。 前者藉由電子束掃描樣品的表面，使樣品表面上產生電子訊號，再經電子偵測器接收後合成圖像；後者則是利用較高的電壓，使電子束獲得足夠的能量穿透樣品，並由偵測器接收訊號。 SEM 的特色為價格較低，容易建置與操作；TEM則價格高昂且需要更大的專屬空間，並需要由專業人員操作，但影像解析能力較強。 1931 年，德國物理學家魯斯卡（Ernst Ruska）製造出第一臺電子顯微鏡（electron microscopes），這項發明也讓他在1986年獲得了諾貝爾物理學獎。 而電子顯微鏡的誕生其實源自於一個想法：「我們可以使用電子而非光波來激發樣品表面，並由產生的電子訊號組成圖像嗎？
原子解析度穿透式電子顯微鏡. 淺談 TEM 分析上常見的主要困惑. A Short Summary of Some Typical Puzzles in TEM Analyses. 鮑忠興. Jong-Shing Bow. 本文簡短討論幾項在常用的 TEM/STEM 材料分析技術時遇見的典型困擾，包括調機操作，成像技術的選擇，錯誤使用高分辨 TEM 影像，EDS 能譜中銅訊號真偽的判斷，和 TEM 模式的 EELS 元素映像技術等。
2021年2月26日 · 2021-02-26. Alex Ilitchev 著. 勀傑團隊 譯. 穿透式電子顯微鏡 (Transmission electron microscopes, TEMs) 隨著新一代的自動化系統、簡易操作的軟體介面與放置儀器的空間減少而越容易使用，但對於從未使用過穿透式電子顯微鏡的初學者來說仍會怯步。. 然而在他們學習 ...
高解析場發射掃描穿透式電子顯微鏡適用於金屬固體、半導體電子、陶瓷礦物、生醫觸媒、高分子、金屬有機框架及電子束敏感等奈米材料等。 以場發射80-200KV不同能量電子穿透試片，具穿透及掃描功能，可觀察物體之形貌、量測尺寸、粒徑計算、分析材料內部之顯微組織、缺陷及晶體結構。 此外，能同時提供在TEM與STEM模式下的高解像分析，Microdiffraction微束繞射分析，TEM-EDS與STEM-EDS的原子級元素化學成份分析、化學元素Mapping與Line Profile分析，以及3D立體影像分析。 可作高角度多方位繞射分析及高品質之明、暗視野影像。 兼具原子級解析及高解像顯微多重功能。 儀器設備說明.
2018年8月3日 · 穿透式電子顯微鏡的原理也差不多，只是成像的媒介由光子改成電子，接收訊號端從眼睛改成偵測器，再將結果秀在螢幕上。 這樣的成像機制可以讓我們看到奈米等級的微結構，材料的高矮胖瘦無不盡收眼底。 電子束之所以能看到比光更小的結構是因為其物質波波長很短 ( )，光波大約 ，波長越短能看到的結構越小。 但是如果電子顯微鏡只有這種能耐，充其量也只不過是台超高倍率放大鏡而已，它的厲害在於能夠得知材料組成成分及相。 如何了解組成成分是透過每一種原子自己的能階，當電子束打在材料上時，由於激發不同材料各自的能階，入射電子束會有能量損失，藉由偵測電子束能量損失，我們便能反推該材料所含有的原子種類。 其專業術語為電子能量損失譜（Electron energy loss spectroscopy，縮寫EELS）。
穿透式電子顯微鏡. 1.穿透影像觀察 (可至nm等級) 2.電子繞射作晶體結構分析 (可作SAD及NBD)。. 3.提供高亮度空間解析度的電子束，適合多樣化的試片分析。. 影像觀察，解析度可達0.23nm (AHR)，倍率可達百萬以上，並可利用OBJ aperture觀察明場像 (Bright field image，一般 ...
透射電子顯微鏡 （英語： Transmission electron microscope ，縮寫： TEM 、 CTEM ），簡稱 透射電鏡 ，是把經加速和聚集的 電子 束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。 散射角 的大小與樣品的密度、厚度相關，因此可以形成明暗不同的影像，影像將在放大、聚焦後在成像器件（如 熒光屏 、 膠片 、以及 感光耦合組件 ）上顯示出來。 由透射電子顯微鏡拍攝的 葡萄球菌 細胞 ， 放大倍數 為50000x。 由於電子的 德布羅意波長 非常短，透射電子顯微鏡的分辨率比光學顯微鏡高的很多，可以達到0.1～0.2 nm，放大倍數為幾萬～百萬倍。
