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分析自樣品反射之偏振光的改變，橢圓偏振技術可得到膜厚比探測光本身波長更短的薄膜資訊，小至一個單原子層，甚至更小。 橢圓儀可測得複數 折射率 或 介電函數 張量，可以此獲得基本的物理參數，並且這與各種樣品的性質，包括形態、晶體質量、化學 ...
分析自樣品反射之偏振光的改變，橢圓偏振技術可得到膜厚比探測光本身波長更短的薄膜資訊，小至一個單原子層，甚至更小。 橢圓儀可測得複數 折射率 或 介電函數 張量，可以此獲得基本的物理參數，並且這與各種樣品的性質，包括形態、晶體質量、化學 ...
維基百科，自由的百科全書. 薄膜 材料是指厚度介於單原子到幾毫米間的薄金屬或有機物層。 電子半導體 功能器件和 光學鍍膜 是薄膜技術的主要應用。 一個很為人們熟知的表面技術的應用是家用的 鏡子 ：為了形成反射表面在鏡子的背面常常鍍上一層金屬，鍍銀操作廣泛應用於鏡子的製作，而低於一個奈米的極薄的鍍層常常用來製作 雙面鏡 。 當光學用薄膜材料（例如減反射膜消反射膜等）由數個不同厚度不同反射率的薄層複合而成時，他們的光學性能可以得到加強。 相似結構的由不同金屬薄層組成的周期性排列的薄膜會形成所謂的 超晶格結果 。 在超晶格結構中，電子的運動被限制在二維空間中而不能在三維空間中運動於是產生了 量子阱效應 。 薄膜技術有很廣泛的應用。
維基百科，自由的百科全書. 薄膜電阻 (sheet resistance)，又被稱為方塊電阻、方阻，是具有均勻厚度薄膜 電阻 的量度，通常被用作評估半導體摻雜的效果。 使用這種概念的例子有： 半導體 的 摻雜 領域（比如 矽 或者 多晶矽 ），以及被絲網印刷到 薄膜混合微電路 基底上的電阻。 薄膜電阻的概念與 電阻 或者 電阻率 相對，可直接用 四端點測量技術 測量法（也稱為四點探針測量法）或 范德堡法 來測量。 薄膜電阻用 歐姆 每平方（ ）來計量，可被應用於將薄膜考慮為一個二維實體的二維系統。 它與三維系統下所用的 電阻率 的概念對等。 當使用到薄膜電阻一詞的時候，電流必須沿著薄膜平面流動，而非與其垂直。 對於常規三維導體， 電阻 可寫為. 其中 代表電阻率， 代表截面面積而 代表長度。
氣液層析法 （英語： Gas chromatography ，又稱 氣相層析 ）是一種在 有機化學 中對易於 揮發 而不發生 分解 的混合物進行 分離 與分析的 層析 技術。 氣相層析的典型用途包括測試某一特定化合物的純度與對混合物中的各組分進行分離（同時還可以測定各組分的相對含量）在某些情況下，氣相層析還可能對化合物的表徵有所幫助。 在 微型化學實驗 中，氣相層析可以用於從混合物中製備純品。 [1] 氣相層析中的流動相（或活動相）是載 氣 ，通常使用惰性氣體（如 氦氣 ）或 反應性 差的氣體（如 氮氣 ）。 固定相則由一薄層 液體 或 聚合物 附著在一層惰性的 固體 載體表面構成。 固定相裝在由 玻璃 或 金屬 製成的一根空心管柱內（稱為層析柱）。
假設照射一束光波於 薄膜 ，由於 折射率 不同， 光波 會被薄膜的上界面與下界面分別反射，因相互 干涉 而形成新的光波，這現象稱為 薄膜干涉 。 對於這現象的研究可以透露出關於薄膜表面的資訊，這包括薄膜的厚度、折射率。 薄膜的商業用途很廣泛，例如， 增透膜 、 鏡子 、 濾光器 等等。 現在考慮在另一種材料上的一層薄膜。 這種情況下，薄膜的上下表面同時反射光線。 總反射光是兩部分反射光的總和。 由於光的波動性，兩個界面的反射光可能干涉相長（強度增加）或干涉相消（強度減小），這取決於它們的相位關係。 相位關係取決於兩個反射光不同的光程，而光程取決於薄膜厚度，光學常數，和波長。
2023年9月18日 · 分析自样品反射之偏振光的改变，椭圆偏振技术可得到膜厚比探测光本身波长更短的薄膜信息，小至一个单原子层，甚至更小。 椭圆仪可测得复数 折射率 或 介电函数 张量，可以此获得基本的物理参数，并且这与各种样品的性质，包括形态、晶体质量、化学 ...
