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掃描式電子顯微鏡（scanning electrons microscopes, SEM），以及穿透式電子顯微鏡（transmission electron microscopes, TEM）
圖片: gigoptix.com
- 電子顯微鏡主要分為兩種，分別為掃描式電子顯微鏡（scanning electrons microscopes, SEM），以及穿透式電子顯微鏡（transmission electron microscopes, TEM）。 SEM的電壓範圍通常介於1 ～ 25千伏（kV），此顯微鏡是藉由電子束掃描樣品的表面，使樣品表面上的每個位置產生電子訊號，經電子偵測器接收彈射出的特定訊號後合成圖像。
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電子顯微鏡如何提高對比度?
技術 [ 編輯] 電子顯微鏡的主要組成部分是： 電子源，是一個釋放自由電子的 陰極 ，一個環狀的 陽極 加速電子。 陰極和陽極之間的電壓差必須非常高，一般在數千伏到3百萬伏之間。 電子透鏡，用來聚焦電子。 一般使用的是磁透鏡，有時也有使用靜電透鏡的。 電子透鏡的作用與 光學顯微鏡 中的光學透鏡的作用是一樣的。 光學透鏡的焦點是固定的，而電子透鏡的焦點可以被調節，因此電子顯微鏡不像光學顯微鏡那樣有可以移動的透鏡系統。 真空 裝置。 真空裝置用以保障顯微鏡內的真空狀態，這樣電子在其路徑上不會被吸收或偏向。 樣品架。 樣品可以穩定地放在樣本架上。 此外往往還有可以用來改變樣品（如移動、轉動、加熱、降溫、拉長等）的裝置。 探測器，用來收集電子的信號或次級信號。 種類 [ 編輯]
2022年4月1日 · 電子顯微鏡主要分為SEM 及TEM兩種。 前者藉由電子束掃描樣品的表面，使樣品表面上產生電子訊號，再經電子偵測器接收後合成圖像；後者則是利用較高的電壓，使電子束獲得足夠的能量穿透樣品，並由偵測器接收訊號。 SEM 的特色為價格較低，容易建置與操作；TEM則價格高昂且需要更大的專屬空間，並需要由專業人員操作，但影像解析能力較強。 1931 年，德國物理學家魯斯卡（Ernst Ruska）製造出第一臺電子顯微鏡（electron microscopes），這項發明也讓他在1986年獲得了諾貝爾物理學獎。 而電子顯微鏡的誕生其實源自於一個想法：「我們可以使用電子而非光波來激發樣品表面，並由產生的電子訊號組成圖像嗎？
下表描述了光學、電子和掃描探測器類別中的主要顯微鏡類型。 光學顯微鏡. 電子顯微鏡. 掃描探測器顯微鏡（SPM） 其他. 除上述類別外，光學顯微鏡可分為以下幾類： 按應用分類. 按結構分類. 放大觀察和儀器. 根據放大率劃分可觀察物. 小知識：1×放大率的參考是多少？ 顯微鏡基礎 顯微鏡的基本結構和原理. 顯微鏡基礎 顯微鏡歷史. 索引.
種類. 電子顯微鏡按 結構 和 用途 可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發射式電子顯微鏡等。 透射式電子顯微鏡常用於觀察那些用普通顯微鏡所不能分辨的 細微物質結構 ；掃描式電子顯微鏡主要用於觀察 固體表面的形貌 ，也能與 X射線衍射儀 或 電子能譜儀 相結合，構成 電子微探針 ，用於 物質成分分析 ；發射式電子顯微鏡用於 自發射電子表面 的研究。 透射電子顯微鏡. 因電子束 穿透樣品 後，再用電子透鏡成像放大而得名。 它的光路與光學顯微鏡相仿，可以直接獲得一個樣本的 投影 。 通過改變物鏡的透鏡系統人們可以直接放大物鏡的焦點的像。 由此人們可以獲得電子衍射像。 使用這個像可以分析樣本的晶體結構。
种类. 穿透式電子顯微鏡 （TEM）可以直接获得一个样本的投影。 在这种显微镜中电子穿过样本，因此样本必须非常薄。 样本的厚度取决于组成样本的原子的原子量、加速电子所用的电压和所希望获得的分辨率。 样本的厚度可以从数纳米到数微米不等。 原子量越高、电压越低，样本就必须越薄。 通过改变物镜的透镜系统人们可以直接放大物镜的焦点的像。 由此人们可以获得电子衍射像。 使用这个像可以分析样本的晶体结构。 在 能量过滤穿透式电子显微镜 （Energy Filtered Transmission Electron Microscopy，EFTEM）中人们测量电子通过样本时的速度改变。 由此可以推测出样本的化学组成，比如 化学元素 在样本内的分布。
電子顯微鏡. 光學顯微鏡 是一種利用透鏡產生光學放大效應的顯微鏡。. 現代體視顯微鏡的光學設計: A - 物鏡 B - 伽利略望遠鏡（ rotating objectives ）. C - 縮放控制 D - 內部物鏡 E - 棱鏡. F - 中繼透鏡 G - 分劃板 H - 接目鏡. 顯微鏡 泛指將微小不可見或難見物品之影像 ...
2023年12月19日 · 掃描式電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope, SEM）是一種高解析度的電子顯微鏡，使用高能電子束來掃描樣品表面，透過觀察產生的電子信號，進而形成影像，通常用於觀察微觀結構。 相較於光學顯微鏡，SEM使用電子束而非可見光，因此具有更高的空間解析度。 SEM掃描式電子顯微鏡原理. 主要原理包括： 電子束（Electron beam）生成： 電子槍透過熱電子發射或場發射，發射高能電子。 聚焦電子束： 使用電磁透鏡或稱為電子鏡（Electron Lens），控制電子束的聚焦和偏轉，使其集中在樣品表面。
