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  1. 顯微分光膜厚量測儀OPTM series將非接觸式膜厚測定必要的機能集中在一個量測頭,顯微分光下廣範圍的光學系統,最小對應spot約3μm,具有高再現性量測,絕對反射率光譜,分析多層薄膜厚度等多重特性。.

  2. 讓專家介紹4種市面上常見的膜厚計,辨別接觸式及非接觸式膜厚計,從膜厚量測原理、適合的膜材及應用場景,迅速上手各機型的特點! 大塚科技股份有限公司

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  3. 非破壞式膜層進行高速膜厚解析,有平行光、顯微鏡、橢圓偏光、全幅寬、產線專用等 選擇,是企業膜厚計選擇最好的解決方案。 相關技術應用可參考 📖 技術文章-膜厚儀📖

  4. SolveTech PR2000B是專為測量塑膠薄膜等非導電材料厚度所設計的膜厚計,獨家科技「非輻射」「非接觸式」測量,精準度高 (每 0.125inch 進行樣品測量),最多可測量達 0.2 inches /5 mm的材料厚度,其應用領域包含:. 塑膠薄膜製造廠品管:可快速輕鬆地提取樣品,以 ...

  5. 依據目標物的形狀和材質、測量的種類等多個因素,選擇最適合膜厚的量測方法十分重要。 若是選擇了不適合的測量,可能導致無法達到要求精度,或是運用工時增加等,因此需要盡量避免。

  6. 干涉式 膜厚儀-使用光進行非接觸式厚度測量. Bristol膜厚儀使用光的獨特特性來精確測量透明、半透明和一些不透明材料的厚度。 這種非接觸技術可用於硬質和軟質材料,而不會損壞或變形。 最多可以同時測量31個單層以及總厚度。 Bristol膜厚儀系統可用於分析厚度達80毫米、薄達12微米的材料,使其成為光學元件和鏡頭元件、眼科產品、醫療管、氣球導管、多層顯示器、半導體和玻璃等應用的首選儀器。 膜厚儀-Bristol 157/137. 當前位置: 網站首頁 >> 光學膜厚量測儀 >> 干涉式膜厚儀 >> 膜厚儀-Bristol 157. 干涉式 膜厚儀-使用光進行非接觸式厚度測量 Bristol膜厚儀使用光的獨特特性來精確測量透明、半透明和一些不透明材料的厚度。

  7. 產品有CNT奈米碳管、原子層沉積系統、二氧化矽奈米懸浮液、OEG光學量測、VINE膜厚量測、STM/SPM/SEM表面形態分析、紙帶及電化學氣體偵測器、晶圓劈裂機、奈米與球型化材料製備設備、電漿增強化學氣相沉積系統、X光光電子能譜/化學分析電子