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圖片: automationline.de
- 掃描電子顯微鏡利用動能，根據電子之間的相互作用生成數據。 這些電子是二次電子、背散射電子和衍射背散射電子，用於觀察晶體元素和光子。 為了創建圖片，使用了二次電子和背散射電子。 標本釋放的二次電子主要負責檢測標本的形態和形貌，而背散射電子則揭示標本元素組成的差異。
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掃描電子顯微鏡由什麼組成?
什麼是電子顯微鏡?
掃描電鏡的優點是什麼?
電子顯微鏡的行進路線為何?
掃描電子顯微鏡 （英語： Scanning Electron Microscope ，縮寫為SEM），簡稱 掃描電鏡 ，是一種通過用聚焦 電子束 掃描樣品的表面來產生樣品表面圖像的 電子顯微鏡 。 顯微鏡電子束通常以 光柵掃描 （英語：Raster scan） 圖案掃描。 電子 與樣品中的 原子 交互作用，產生包含關於樣品的表面 測繪學形貌 和組成的資訊的各種信號，信號與光束的位置組合而產生圖像。 掃描電子顯微鏡可以實現的解析度優於1 奈米 。 樣品可以在高真空，低真空，濕條件（用環境掃描電子顯微鏡）以及寬範圍的低溫或高溫下觀察到。 最常見的掃描電子顯微鏡模式是檢測由電子束激發的原子發射的 二次電子 （secondary electron）。
2019年11月4日 · 什麼是SEM? SEM是掃描式電子顯微鏡的縮寫。 電子顯微鏡使用電子束成像，就如同光學顯微鏡是利用可見光。 SEM使用特定的電子掃描光束，使用被反射或從樣品近表面區域擊落的電子來形成圖像。 由於電子的波長遠小於光的波長，因此SEM的分辨率優於光學顯微鏡。 市面上電子顯微鏡分為兩種主要類型： 1.透射電子顯微鏡（TEM），使用電子檢測穿過非常薄的樣本成像。 2.掃描電子顯微鏡（SEM），它使用被反射或從樣品的近表面區域擊落的電子來產生圖像。 SEM技術如何運作？ 現在我們將專注於SEM上。 SEM技術的示意圖如下方圖1所示。 在這種電子顯微鏡中，用電子束掃描樣品。 首先，電子藉由燈絲聚焦電子槍頂端產生。 當它們的熱能克服了燈絲材料的功函時，就會發出這些光，然後它們被加速並被帶正電的陽極吸引。
工作原理. 掃描電子顯微鏡的製造依據是電子與物質的相互作用。 掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發出各種物理信息。 通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。 電子束和固體樣品表面作用時的物理現象. 當一束極細的高能入射電子轟擊掃描樣品表面時，被激發的區域將產生 二次電子 、 俄歇電子 、特徵 x射線 和連續譜 X射線 、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區域產生的 電磁輻射 。 同時可產生電子-空穴對、 晶格振動 （聲子)、 電子振盪 （ 等離子 體）。
2024年3月17日 · 掃描電子顯微鏡原理 掃描電子顯微鏡 (SEM) 的基本原理 掃描電子顯微鏡零件 掃描電子顯微鏡樣品製備 是什麼導致樣品降解？掃描電子顯微鏡 (SEM) 是如何工作的？掃描過程和圖像形成 放大過程 如何檢測二次電子？如何檢測背散射電子？SEM 分辨率
1-1掃描電子顯微鏡結構 掃描電子顯微鏡結構包括幾個部分: (1) 電子光學系統:電子槍、電磁透鏡、掃描線圈、像散修正器(Stigmator)、光柵、樣品室。 (2) 訊號收集及顯示系統:二次電子及背反射電子偵測器、吸收電子檢測器、X射 線偵測器、顯示系統。 (3) 真空
2023年12月19日 · 掃描式電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope, SEM）是一種高解析度的電子顯微鏡，使用高能電子束來掃描樣品表面，透過偵測器接收電子信號，進而轉換生成影像。 掃描式電子顯微鏡與樣品交互作用可產生多種信號，如二次電子（Secondary Electron）、背向散射電子（Backscattered Electron）和特徵X射線（Characteristic X-ray）等。 使用不同的偵測器分別接收這些信號，可以對樣品取得更全面的瞭解。 SEM掃描式電子顯微鏡組成. SEM掃描式電子顯微鏡接收電子信號. SEM掃描式電子顯微鏡：二次電子信號成像.
工作原理. 掃描電子顯微鏡的製造依據是電子與物質的相互作用。 掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發出各種物理信息。 通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。 電子束和固體樣品表面作用時的物理現象. 當一束極細的高能入射電子轟擊掃描樣品表面時，被激發的區域將產生 二次電子 、 俄歇電子 、特徵 x射線 和連續譜 X射線 、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區域產生的 電磁輻射 。 同時可產生電子-空穴對、 晶格振動 （聲子)、 電子振盪 （ 等離子 體）。
